用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。
HAST高压加速老化试验机的规范要求：
内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量。
具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
高压加速老化试验机安全?；ぷ爸茫?/span>
误操作安全装置：高压加速老化试验机锅门若未关紧则机器无法启动。
超压安全?；ぃ旱惫谘沽Τ畲蠊ぷ髦底远牌寡?。
超温?；ぃ旱惫谖露裙呤被髅芯ú⒆远卸霞尤鹊缭?。
防烫伤?；ぃ禾刂撇闹手瞥煽煞乐共僮魅嗽苯哟ヌ躺?。
手动安全保护排压伐。
服务热线：0769-22851840
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更新时间：2021-07-12 
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